WLP - 208平均粒度测定仪

WLP - 208平均粒度测定仪:该仪器是在WLP - 205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料很容易的压紧到规定的压力上(国际通用50磅力·时即22.7kgf·cm),从而使测试更加简便、性能稳定、重复性好，其他主要技术指标与WLP - 205型平均粒度测定仪相同。

主要技术指标

1、粒度测量范围:0.2um(微米)—50um(微米)

2、孔隙度范围:0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.953、精度:3%

4、工作环境:相对湿度不大于80%，温度:25±10C5、电源:一220±22v 50-60Hz

6、功率:30w

7、重量:28Kg

8、外型尺寸:735×414×244mm3